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insbesondere in Form von Streustrahlung am Probenträger. Der Untergrund 
wird hauptsächlich durch Streuungen am Probenträger hervorgerufen. 
Aufgrund dieser Tatsache haben Yoneda und Horiuchi [36] eine Senkung des 
Untergrundes durch Totalreflexion der Anregungsstrahlung vorgeschlagen. 
Dieser Vorschlag wurde in den folgenden Jahren von Aiginger und 
Wobrauschek [37,38] weiter verfolgt und von Knoth und Schwenke zur 
Anwendungsreife entwickelt [39,40,41]. 
Danach trifft die Anregungsstrahlung in einem sehr flachen Winkel von nur 
wenigen Bogenminuten auf eine hochebene Probenträgeroberfläche aus Si0 2 - 
Glas und wird von dieser total reflektiert. Die Probe ist auf der Si0 2 - 
Glasoberfläche in Form eines sehr dünnen amorphen Films aufgebracht. 
Abbildung 7 verdeutlicht die Verhältnisse: 
Si(Li)-Detektor 
Abb. 7: Prinzip der Fluoreszenzanregung unter Totalreflexion des 
Primärstrahles 
Lit. [45]: A. Prange; Dissertation; "Entwicklung eines spurenanalytischen 
Verfahrens zur Bestimmung von gelösten Schwermetallen in Meerwasser mit 
Hilfe der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse"; 
Universität Hamburg, 1983