1] 
30 
60° 
A 
390 
sr 
58° 
N1° 
Auen 
0.19 
56° 
A 
a 
34° 
59°. 
Sec-hi-depth 
3 
Gauß 425 
05.08. - 20.08.2004 
WW 
F 
Abb. 2: Secchi-Tiefen (FS Gauß, Reise 425) 
5ao0h 
ol 
397 
En 
0.14 
N.34 
D.Ze 
0.38 
NO3+2 [UM] 
Bean 
Se 
7 
Gauß 425 
05.08. - 20.08.2004 | 
8° E 
1° W 
Abb. 3a: Nitrat und Nitrit Oberflächenverteilung 
(FS Gauß, Reise 425) 
s 
} 
N 
and 
6004 
A 
De 
4 
—- 
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Fe 
1 
590° 
Aberdeen 
» 
ZZ 
„nol 
9.04 0.04 
U 
A 
5a 
Ye 
Gh 
7 
A 
EL 
5 50J 
5 
POa [UM] 
Surface 
‚OF 
Fa 
Gauß 425 
209 - 20 D& SAN4 
—— 
A°\W DD“ 
D9 
9° 
A- 
E 
Abb. 3b: Phosphat Oberflächenverteilung 
{FS Gauß, Reise 425) 
5401 
-90 
SiO2 [UM 
= 
m 
m 
A°\WW  D° 
ya 
ge 
A° 
Abb. 3c: Silikat Oberflächenverteilung 
{FS Gauß. Reise 425) 
Gauß 425 
05.08. - 20.08.2004 
tT 5» 
8° E